產(chǎn)品詳情：

     對于氨逃逸的測量，3ppmv的排放上限對于儀器的性能是很大的挑戰(zhàn)，現(xiàn)有的絕大多數(shù)近紅外激光氨逃逸儀表均無法在現(xiàn)場工況條件下達(dá)到可靠的精度。另外，SCR出口煙道測量環(huán)境非常惡劣，傳統(tǒng)的原位對穿式激光氨表，受粉塵的影響，光線無法穿透，同時(shí)管道會(huì)隨機(jī)組負(fù)荷及溫度發(fā)生熱膨脹，導(dǎo)致激光對光打偏，信號丟失，增加了儀表維護(hù)成本。

       近來有產(chǎn)品利用抽取式采樣+近紅外激光+長光程吸收池技術(shù)，利用長光程彌補(bǔ)氨分子近紅外譜線吸收較弱的缺點(diǎn)，但由于增加了長光程吸收池這種精密光學(xué)元件，不適合脫硝出口處高粉塵、高溫、高銨鹽的惡劣工況。長期運(yùn)行后，精密光程池的清洗和對光，大大增加了維護(hù)難度和成本。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

• 抗干擾、精度高：我們選用氨在中遠(yuǎn)紅外波段下*的吸收譜線，*不受H2O、SOX、COX、CXHY、NOX等分子交叉干擾。

• 無需現(xiàn)場調(diào)光矯正：MIR-SHORTTM超短光程氣體吸收池避免頻繁對光維護(hù)的困擾，且光機(jī)結(jié)構(gòu)不受高溫環(huán)境的熱致偏差影響。

• 可靠性高易維護(hù)：吸收池的通光效率高，工業(yè)煙氣高粉塵、高鹽堿結(jié)晶不影響系統(tǒng)準(zhǔn)確度。并且*避免長光程多次發(fā)射吸收池等精密設(shè)備的高維護(hù)需求。

• 直接測量誤差?。?/span> 氨分子光譜直接測量保證了高準(zhǔn)確度，不存在間接分析技術(shù)的預(yù)處理系統(tǒng)轉(zhuǎn)化率問題。

• 綜合運(yùn)維成本低：預(yù)處理系統(tǒng)簡單，全程熱濕法伴熱采樣，無需冷凝除水、轉(zhuǎn)化爐、稀釋采樣等額外工藝。

產(chǎn)品參數(shù)：

產(chǎn)品測試曲線圖：

技術(shù)對比測試：

   我們利用商用近紅外激光氨分析儀（藍(lán)色虛線，NIR）和QM-NH3中紅外氨分儀析（黑色虛線，MIR）做了對比測試，測試結(jié)果如下圖：可以明顯看到QM-NH3具有更快的響應(yīng)時(shí)間和更準(zhǔn)確的測量結(jié)果。近紅外儀器響應(yīng)時(shí)間約為85秒，且最大偏差可達(dá)62.5%，而我們的儀器響應(yīng)時(shí)間約為30秒，測量偏差最大值為1.7%。 (見附圖）

采樣配件：

QM-NH3 兼容于SmartlineTM 或 JPESTM 便攜式熱濕法采樣探管及伴熱管線。若客戶需要，我們能為客戶訂購SmartlineTM 或 JPESTM配件。(注：需另行購買）

接口及尺寸示意圖：